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• 010 __ |a 978-7-111-29641-6 |d CNY98.00

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• 096 __ |a TN4 |b wil801 |c 20110601

• 100 __ |a 20110601d2010 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 全面的功能验证 |9 Quan Mian De Gong Neng Yan Zheng |b 专著 |e 完整的工业流程 |f (美)Bruce Wile，(美)John C. Goss，(美)Wolfgang Roesner著 |9 ( Mei ) B r u c e W i l e ， ( Mei ) J o h n C . G o s s ， ( Mei ) W o l f g a n g R o e s n e r Zhu |g 沈海华，乐翔译 |9 quan mian di gong neng yan zheng ： wan zheng de gong ye liu cheng

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2010

• 215 __ |a 21,487页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息工程先进技术译丛

• 306 __ |a 由机械工业出版社与Elsevier(Singapore) Pte Ltd.合作出版

• 312 __ |a 封面英文原题名：Comprehensive functional verification: the complete industry cycle

• 330 __ |a 本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念，以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元，关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。

• 461 _0 |1 001003483597

• 510 1_ |a Comprehensive functional verification |e the complete industry cycle |z eng

• 517 1_ |a 完整的工业流程 |9 wan zheng de gong ye liu cheng

• 606 0_ |a 集成电路 |x 芯片 |x 设计

• 606 0_ |a 集成电路

• 606 0_ |a 芯片

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _0 |c (美) |a 怀尔 |9 Huai Er |c (Wile, Bruce) |4 著 |9 huai er

• 701 _0 |c (美) |a 戈斯 |9 Ge Si |c (Goss, John C.) |4 著 |9 ge si

• 701 _0 |c (美) |a 勒斯纳 |9 Le Si Na |c (Roesner, Wolfgang) |4 著 |9 le si na

• 702 _0 |a 沈海华 |9 Chen Hai Hua |c (女) |4 译 |9 shen hai hua

• 702 _0 |a 乐翔 |9 Le Xiang |4 译 |9 le xiang

• 801 __ |c 20110601

• 905 __ |a FYSF |d TN402/1

• 907 __ |a CZZYJSXY |b 00178685-89 |d TN402 |e 1 |f 5

• 907 __ |a TN4 |b he

• 908 __ |a zyk0061891

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