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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:64

题名/责任者:
全面的功能验证:完整的工业流程/(美)Bruce Wile,(美)John C. Goss,(美)Wolfgang Roesner著 沈海华,乐翔译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-111-29641-6/CNY98.00
载体形态项:
21,487页:图;24cm
并列正题名:
Comprehensive functional verification:the complete industry cycle
其它题名:
完整的工业流程
丛编项:
国际信息工程先进技术译丛
个人责任者:
(美) 怀尔 (Wile, Bruce) 著
个人责任者:
(美) 戈斯 (Goss, John C.) 著
个人责任者:
(美) 勒斯纳 (Roesner, Wolfgang) 著
个人次要责任者:
沈海华 (女) 译
个人次要责任者:
乐翔
学科主题:
集成电路-芯片-设计
学科主题:
集成电路
学科主题:
芯片
中图法分类号:
TN402
出版发行附注:
由机械工业出版社与Elsevier(Singapore) Pte Ltd.合作出版
相关题名附注:
封面英文原题名:Comprehensive functional verification: the complete industry cycle
提要文摘附注:
本书介绍了验证周期的概念和层次化验证的概念,以及在实践中怎样将巨型设计分解为可验证的单元,关注了基于模拟的验证方法和形式验证方法。研究了回归测试和“逃逸”错误分析等。
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